型号:Crookes
品牌:Dezisemi
分类:等离子体光谱检测
简述:等离子体光谱仪-Crookes,针对半导体等离子体工艺设备开发,兼具原位监控和谱线分析功能,解决等离子体工艺稳定度监控,等离子体工艺过程监控,等离子体工艺实时反馈控制,适用于等离子体工艺相关的工艺研发和产线监控。
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设备原理
通过搜集原子发射光谱并分析特征波段/波长的谱线实现对等离子体的监控和反馈控制。
等离子体光谱检测原理
设备构成
● 等离子体发光光谱仪
高性能光谱仪,覆盖紫外到红外波段,精度/灵敏度根据工艺需求选择,可检测绝大部分微加工制备工艺涉及的元素。
● 等离子体监控&分析软件
针对反馈控制,终点检测,稳定性监控等多种工艺需求定制,可实时显示光谱变化三维图,优化积分算法处理判定。根据用户自定义添加的光谱数据库。
● 光学系统集成
可定制化系统集成,真空外检测和真空内检测多种集成方式,防镀膜设计光学探头。
主要功能和特色
● 实时等离子体光谱采集,全数据时域&频域光谱分析
● 自动谱图寻峰及原子谱线数据库匹配
● 等离子体光谱单一峰位&连续波段积分强度监视
● Recipe编译/执行操作模式
软件特点
主要应用
● 等离子体刻蚀终点检测(IBE/IRBE/RIE/ICP-RIE)
● 等离子体稳定度均匀度检测(大面积离子源,腔内等离子体分布)
● 等离子体反应气体组分控制(反应溅射沉积,HiPims,PECVD,Plasma Clean,ATM Plasma)
刻蚀终点检测原理
刻蚀终点检测
软件算法优化
多层膜终点检测
高精度等离子体光谱检测仪 |
高信噪比离子体光谱监测仪 |
多通道等离子体光谱监测仪 |
|
主机型号 |
Crookes-1 |
CrookesI-Pro |
CrookesI-Trident |
通道数量 |
1 |
1 |
3 |
光谱波长范围 |
200 ~ 1100 nm |
220 ~ 980 nm |
200 ~ 1100 nm |
光谱分辨率 |
1.3 nm |
1.8 nm |
1.3 nm / 1.8 nm |
波长精度 |
0.12 nm |
0.2 nm |
0.12 nm/ 0.2 nm |
信噪比 |
500 : 1 |
1000 : 1 |
500 : 1 / 1000 : 1 |
I/O接口 |
2 路模拟输出、4 路模拟输入、8 路数字输入输出 |
||
计算机通信接口 |
GPIB / RS232 / USB |
||
尺寸 |
195 × 275 × 90 mm3 |
||
重量 |
2.5 kg |
2.5 kg |
3.5 kg |
用电 |
单相 220 V, 5 A |
地址
上海市嘉定区皇庆路333号3幢北楼3层
手机
15618100191(于经理)
13524020642(刘经理)
电话
021-61314745
邮箱
sales@dezisemi.com
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