等离子体光谱仪/OES/PES

型号:Crookes

品牌:Dezisemi

分类:等离子体光谱检测

简述:等离子体光谱仪-Crookes,针对半导体等离子体工艺设备开发,兼具原位监控和谱线分析功能,解决等离子体工艺稳定度监控,等离子体工艺过程监控,等离子体工艺实时反馈控制,适用于等离子体工艺相关的工艺研发和产线监控。

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设备原理

通过搜集原子发射光谱并分析特征波段/波长的谱线实现对等离子体的监控和反馈控制。


等离子体光谱检测原理

设备构成

 等离子体发光光谱仪

高性能光谱仪,覆盖紫外到红外波段,精度/灵敏度根据工艺需求选择,可检测绝大部分微加工制备工艺涉及的元素。

 等离子体监控&分析软件

针对反馈控制,终点检测,稳定性监控等多种工艺需求定制,可实时显示光谱变化三维图,优化积分算法处理判定。根据用户自定义添加的光谱数据库。

 光学系统集成

可定制化系统集成,真空外检测和真空内检测多种集成方式,防镀膜设计光学探头。


主要功能和特色

 实时等离子体光谱采集,全数据时域&频域光谱分析

 自动谱图寻峰及原子谱线数据库匹配

 等离子体光谱单一&连续波段积分强度监视

 Recipe编译/执行操作模式


软件特点

主要应用

 等离子体刻蚀终点检测(IBE/IRBE/RIE/ICP-RIE

 等离子体稳定度均匀度检测(大面积离子源,腔内等离子体分布)

 等离子体反应气体组分控制(反应溅射沉积,HiPimsPECVDPlasma CleanATM Plasma

刻蚀终点检测原理

刻蚀终点检测

软件算法优化

多层膜终点检测

高精度等离子体光谱检测仪

高信噪比离子体光谱监测仪

多通道等离子体光谱监测仪

主机型号

Crookes-1

CrookesI-Pro

CrookesI-Trident

通道数量

1

1

3

光谱波长范围

200 ~ 1100 nm

220 ~ 980 nm

200 ~ 1100 nm

光谱分辨率

1.3 nm

1.8 nm

1.3 nm / 1.8 nm

波长精度

0.12 nm

0.2 nm

0.12 nm/ 0.2 nm

信噪比

500 : 1

1000 : 1

500 : 1 / 1000 : 1

I/O接口

2 路模拟输出、4 路模拟输入、8 路数字输入输出

计算机通信接口

GPIB / RS232 / USB

尺寸

195 × 275 × 90 mm3

重量

2.5 kg

2.5 kg

3.5 kg

用电

单相 220 V, 5 A