Eagleᵀ-i Plus 光学检测设备

型号：Eagleᵀ-i Plus

品牌：Camtek

分类：AOI光学检测

简述：Camtek为半导体行业提供广泛的检测和量测解决方案。Camtek的检测和量测设备能够在高产量下可靠地检测出有缺陷的IC，确保只有已知良好的芯片才能最终交付给客户的产品。

Camtek

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出色的2D检测能力

● 算法提供的亚微米缺陷检测

● 可导入CAD设计图，基于图纸检测

● 多层RDL应用的清晰视觉光源

● 切割后晶片的内部裂纹检查（ICI）

● 背光照明技术


先进的平台

● 定制光学器件

● 高强度LED照明

● 显著提高产量


突出点

● 检测灵敏度Bright      Field-0.42μm；Dard Field-0.3μm

● 多重放大，优化灵敏度 

● 可用分区域的检测算法，以优化灵敏度

● 可导入CAD设计图，基于图纸检测

● 能够在一个检测周期内使用不同的聚焦、放大倍率、光源、灵敏度和检测引擎运行连续扫描 

● 设备互匹配-从设备到设备的简单配方传输